什么是測(cè)試探針?

測(cè)試探針(Test probe)，是精密電測(cè)試過(guò)程中必不可少的部件。在電子電路研發(fā)和生產(chǎn)的過(guò)程中，經(jīng)常需要對(duì)信號(hào)的通斷以及質(zhì)量進(jìn)行測(cè)試分析，使用精密測(cè)試探針將信號(hào)無(wú)損的接取出來(lái)提供給相應(yīng)的ICT或者測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行整合分析，測(cè)試探針質(zhì)量的好壞，很大程度影響了測(cè)試的準(zhǔn)確性以及可重復(fù)性。

在PCBA測(cè)試環(huán)節(jié)，通常會(huì)制作專門(mén)的測(cè)試治具（test jig），這些治具會(huì)安裝有探針，用來(lái)與PCBA測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸。通過(guò)這種方式，可以測(cè)試出PCBA的性能參數(shù)，包括但不限于連接器的接觸電阻、絕緣電阻、耐壓性能等。

探針是如何組成?

探針是由針頭、針管及彈簧3個(gè)基本結(jié)構(gòu)組成的測(cè)試針，用于檢測(cè)線路板中的各類電子元器件。

 探針的彈力是不是越大越好?

根據(jù)經(jīng)驗(yàn)可以看到，彈簧力應(yīng)該盡可能低，這樣才能夠讓負(fù)荷盡可能少；但彈簧力同時(shí)也要足夠高，以確保良好的電接觸，彈簧力不足又會(huì)引起接觸不良等；因此需要彈簧力，針頭形狀、測(cè)試環(huán)境等因素來(lái)考慮。

推薦使用：一般扎針測(cè)試可以用2N以上，界面針很多且常壓接觸的可以用1.5N左右；有時(shí)候也看客戶是否有要求；

探針的種類
ICT在線測(cè)試針主要應(yīng)用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試，也稱ICT和FCT測(cè)試，也是目前應(yīng)用較多的一種探針。
高頻針用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈。

大電流探針用于很多使用高電流的行業(yè)和應(yīng)用；應(yīng)用用途是精確測(cè)量，針對(duì)該用途要用內(nèi)電阻很低的測(cè)試探針。

雙頭針用于BGA測(cè)試使用，比較緊密，做工要求比較高，一般檢測(cè)手機(jī)IC芯片、筆記本電腦IC芯片、平板電腦以及通訊IC芯片等等，針身直徑在于0.25MM~0.58MM之間。

開(kāi)關(guān)探針單獨(dú)一支探針有 兩路電流，控制電路的常開(kāi)常閉功能。

界面針主要用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面，附圖右邊即為界面，用于將信號(hào)進(jìn)行無(wú)線轉(zhuǎn)接。